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種可能：法拉第效應、塞曼效應、克爾效應。
法拉第效應（法拉第旋轉，磁致旋光）是一種磁光效應，是在介質內光波與磁場的一種相互作用。法拉第效應會造成偏振平面的旋轉，這旋轉與磁場朝著光波傳播方向的分量呈線性正比關係。1845年法拉第發現當線偏振光在介質中傳播時，若在平行於光的傳播方向上加一強磁場，則光振動方向將發生偏轉，偏轉角度與磁感應強度和光穿越介質的長度的乘積成正比。
楚遷想，可能是偏振光受到聚能場電磁場作用，使得偏轉角變化。
荷蘭物理學家塞曼發現，原子光譜線在外磁場發生了分裂。隨後洛侖茲在理論上解釋了譜線分裂成3條的原因。這種現象稱為“塞曼效應”。進一步的研究發現，很多原子的光譜在磁場中的分裂情況非常複雜，稱為反常塞曼效應。完整解釋塞曼效應需要用到量子力學，電子的軌道磁矩和自旋磁矩耦合成總磁矩，並且空間取向是量子化的，磁場作用下的附加能量不同，引起能級分裂。在外磁場中，總自旋為零的原子表現出正常塞曼效應，總自旋不為零的原子表現出反常塞曼效應。塞曼效應證實了原子磁矩的空間量子化。利用塞曼效應可以測量電子的荷質比。在天體物理中，塞曼效應可以用來測量天體的磁場。
楚遷想，可能是光譜線在聚能場的磁場作用下發生了分裂。利用塞曼效應也可以進行天體的檢測。
克爾發現，與電場二次方成正比的電感應雙折射現象。放在電場中的物質，由於其分子受到電力的作用而發生取向（偏轉），呈現各向異性，結果產生雙折射，即沿兩個不同方向物質對光的折射能力有所不同。後人稱之為克爾電光效應。
楚遷想，可能是其他透光物質的折射率在聚能場的磁場作用下發生變化。利用克爾電光效應也可以檢測折射率。
總結起來講，偏振光的偏轉角，光譜線，透光物質的折射率，都可能在聚能場電磁場影響下發生變化，所以，利用光感測器檢測到的訊號會有變化。
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